羽田空港、入国審査時の「非接触指紋認証」の実証実験に、パナソニック製技術を採択

　2月3日から28日の期間で、出入国管理庁が羽田空港第3ターミナル中央出国審査場付近で実施する「非接触指紋認証の精度検証」の実証実験に、パナソニックコネクト株式会社の非接触指紋認証技術が採択された。今回の実証実験は、今後の更なる訪日外国人の増加を見据え、将来的な空港での上陸審査の所要時間を短縮を目的にしている。同社技術は、現行の圧着指紋と指非接触指紋の照合精度を大幅に向上させることで、既に接触型で登録されている指紋データベースを再構築することなく、非接触指紋認証に置き換えることを可能にする。

　現在、外国人の入国審査時は、接触型指紋認証機によって、指紋の採取・認証がが行われているが、これを非接触指紋認証に置き換えることで指紋取得時にかかる時間の短縮が期待されている。実証実験では、出国審査場にて、任意の外国人を対象に非接触指紋認証にて指紋採取を行い、入国時に従来の機械で取得した指紋データと照合可能か検証する。